装置構成

装置構成

画像測定方式の優位性

画像測定方式の優位性

測定対象

  • 半導体
    半導体
  • 太陽電池
    太陽電池
  • フラットパネルディスプレイ
    フラットパネルディスプレイ
  • ガラス(コーティング)・フィルム
    ガラス(コーティング)・
    フィルム

薄膜干渉の原理

薄膜干渉の原理

膜厚測定の原理

膜厚測定の原理